Caracterización de materiales a través de medidas de microscopía electrónica de barrido (SEM). Elementos, [S. l.], v. 3, n. 3, 2013. DOI: 10.15765/e.v3i3.420. Disponível em: https://revistas.poligran.edu.co/index.php/elementos/article/view/420.. Acesso em: 4 apr. 2025.